納米鈦酸鋇是電子陶瓷元器件行業(yè)使用較廣、用量最大的基礎原料，被譽為“電子陶瓷工業(yè)的支柱"。我們使用919SZ型納米粒度及Zeta電位分析儀測試了納米鈦酸鋇懸浮液的粒度和Zeta電位。  
測量原理  
       采用動態(tài)光散射法，在90°散射角測量顆粒粒度；采用電泳光散射法，在前向11°散射角測量電泳遷移率，再計算得到Zeta電位。  
樣品制備及測試條件 
       稱取10mg納米鈦酸鋇粉末分散到90mL水中，得到濃度為0.1mg/mL的溶液，超聲分散15分鐘，取1.5mL樣品放入聚苯乙烯比色皿中，將比色皿插入儀器樣品池槽，溫度設置為25℃，溫度平衡時間設置為200s，測量鈦酸鋇顆粒粒度。取0.8mL樣品放入U型毛細管樣品池中，將毛細管樣品池放入儀器樣品池槽，溫度設置為25℃，溫度平衡時間設置為200s，測量鈦酸鋇的Zeta電位。  
測量結(jié)果和結(jié)論  
粒度  
       研究納米材料的制備、性質(zhì)及應用中常常涉及到晶型轉(zhuǎn)變，粒度對納米鈦酸鋇顆粒的晶型轉(zhuǎn)變熱力學性質(zhì)有很大影響：隨著粒徑的減小，其晶型轉(zhuǎn)變溫度、晶型轉(zhuǎn)變焓和晶型轉(zhuǎn)變熵均隨之減小，并且分別與半徑的倒數(shù)呈線性關系，因此研究粒度對納米鈦酸鋇顆粒晶型轉(zhuǎn)變熱力學性質(zhì)的影響規(guī)律具有重要的科學意義和實用價值。

制備的納米鈦酸鋇粒度樣品

粒度測試結(jié)果

相關函數(shù)曲線

顆粒粒度分布曲線

       從測量結(jié)果可以看出，粒度分布均為單峰分布且多分散指數(shù)PI均小于0.3，說明納米鈦酸鋇顆粒是適度分散的樣品，三次測量結(jié)果重復性較好，為0.7%。

制備的納米鈦酸鋇Zeta電位樣品

Zeta電位
       顆粒Zeta電位是表征顆粒懸浮液穩(wěn)定性的重要參數(shù)，Zeta電位越大，顆粒懸浮液越穩(wěn)定；反之，顆粒懸浮液越不穩(wěn)定。通常，在大多數(shù)顆粒懸浮液中，Zeta電位絕對值大于30mV被稱為穩(wěn)定的閾值。

Zeta電位測試報告 

Zeta電位分布曲線  

       從測量結(jié)果可以看出，三次測量結(jié)果重復性較好，為2.5%，Zeta電位值均大于-30mV，說明納米鈦酸鋇懸浮液較為穩(wěn)定。